電子電器產(chǎn)品的高低溫測試分為高低溫存儲測試和高低溫運行測試。

高低溫存儲是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進行測試。

低溫運行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進行測試。

電子電器產(chǎn)品高低溫測試需要用帶有加熱和制冷功能的可編程高低溫測試箱進行測試。測試過程如下：

1、測試前先檢查測試樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；

2、將樣品放入高低溫箱中，設置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時間、變溫的時間、周期數(shù)。比如高溫70°C下保持2小時，然后從70°C半小時內(nèi)降到低溫-20°C，保持2小時，再從-20°C半小時內(nèi)升溫到70°C。如此循環(huán)，測試20個循環(huán)。

3、測完后，拿出樣品，檢查測試后樣品的外觀、功能、性能等。

4、如發(fā)現(xiàn)樣品跟測試前相比無明顯變化，或者變化在所定的標準范圍之類，則表示測試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。

高低溫測試對測試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時間、升溫和降溫的時間、測多少個周期等沒有固定的標準，委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標準，或按客戶要求制定測試條件。

制定測試條件時可參考產(chǎn)品實際的存儲環(huán)境、運輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C，溫度保持時間2小時至8小時不等，變溫時長一般半小時以內(nèi)，循環(huán)周期4至20個周期不等。